mac@tmteck-instruments.com
Imate vprašanje? Pokličite nas:+8613911515082
angleščina

Ultravzvočna sonda za debelino Equv GE

Equv GE ultrasonic thickness probe Featured Image
  • Equv GE ultrasonic thickness probe
  • Equv GE ultrasonic thickness probe
  • Equv GE ultrasonic thickness probe
  • Equv GE ultrasonic thickness probe
  • Equv GE ultrasonic thickness probe
  • Equv GE ultrasonic thickness probe
  • Equv GE ultrasonic thickness probe
  • Equv GE ultrasonic thickness probe

Kratek opis:


Podrobnosti o izdelku

Oznake izdelkov

Ultravzvočna sonda za debelino Equv GE

23

Model Frekvenca Mhz Velikost kristala (mm) Tip priključka Premer kontaktne površine Temperaturno območje
DA301 5 Dia 10 2XLemo00 Dia 12,5 mm 5-50
MSEB4 4 3,5 × 10 2XLEMO 00 Dia 16,5 mm 5-50
MB4S 4 Dia 10 LEMO 00 Dia 15 mm 5-50
DA312 10 5 mm 2Xmicrodot 7,5 mm -20-70
  • Prejšnja:
  • Naslednji:
    • Tukaj napišite svoje sporočilo in nam ga pošljite

    Kategorije izdelkov